可焊性和耐焊接熱試驗?zāi)康模捍_定晶振能否經(jīng)受焊接(烙焊、浸焊 、波峰焊或回流焊)端頭過程中所產(chǎn)生的熱效應(yīng)考驗。耐焊接熱試驗可以參照GJB 360B.208/210方法試驗要求
。試驗設(shè)備有熔錫爐和放大鏡
。

試驗?zāi)康模?/strong>
耐受性:評估晶振能否承受高溫環(huán)境;
可焊性:評估材料能否用于焊接;
穩(wěn)定性:在高溫下,評估材料能否會變形融化等。
具體規(guī)范:
焊料溫度260℃±5℃ 10秒 3次,其中SMD產(chǎn)品保持30秒1次:
DIP直插晶振:錫面離本體1.5mm;
SMD貼片晶振:錫覆蓋PAD。
試驗過程影響:
如果焊接操作不當(dāng)會對晶振造成損傷,嚴(yán)重時會造成停振;或造成軟傷害,即使可以正常工作,在未來的使用中也會造成停振的現(xiàn)象。KOAN晶振安裝焊接環(huán)節(jié)需要格外的注意。焊接分為手工和機(jī)器焊接:
手工焊接:烙鐵頭應(yīng)該控制在350℃/3s,或者260℃/5s;
機(jī)器焊接:回流焊主要用于貼片晶振的焊接(例如KS32, KS50, KS70...); 波峰焊用于插件元件(DIP封裝,例如KS08, KS14...)。