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晶振可靠性測試：跌落試驗

發(fā)布時間：2023-11-06 閱讀次數(shù)：1184次

跌落試驗的目的是確定在搬運裝卸及在現(xiàn)場工作條件下所引起的重復(fù)隨機撞擊對晶振的影響

。試驗中會暴露出不需要用沖擊和振動試驗就能檢查出來的各種類型的結(jié)構(gòu)與機械缺陷
?div id="jpandex" class="focus-wrap mb20 cf">？蓞⒖紭?biāo)準：GJB 360B.203
。本試驗可以用“跌落試驗臺”
。


 

試驗說明：

·      3225 (含)以下尺寸產(chǎn)品加重跌落：晶振在150g/150CM高度自由落體到水泥地板3次 * (x,y,z,-x,-y,-z),共十八次 (6面12邊方向各跌落一次)

·      3225以上尺寸產(chǎn)品：KOAN晶振在75cm高度自由落體到水泥地板3次

 


無源晶振指的是諧振器

，內(nèi)部沒有獨立起振電路
，需要外部電路配合
，并且精準匹配外部電容才可以輸出信號；KOAN有源晶振指的是所有振蕩器系列
，特點是穩(wěn)定度高
，不受外部電路影響，內(nèi)部有獨立起振芯片
。


跌落試驗對晶振的影響：

  • 晶體諧振器：頻率升高1ppm左右(5max), 諧振阻抗增大4Ω左右(5max or +10%)

  • 晶體振蕩器：頻率降低2ppm左右(-5max)

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