什么參數(shù)會(huì)影響晶振的近端和遠(yuǎn)端噪聲？
發(fā)表于 2025-01-10 13:09其中：諧振電阻R，負(fù)電阻Rˉ、動(dòng)態(tài)電感L、動(dòng)態(tài)電容C1、頻率ω、k為常數(shù)(12~30)。 2. 負(fù)性阻抗(Rˉ)：KOAN振蕩器的負(fù)性阻抗通常設(shè)計(jì)為晶體諧振電阻的3至20倍，這樣可以有效加快起振過程并提高振蕩的穩(wěn)定性。負(fù)性阻抗的倍數(shù)越高，起振速度越快。
其中：gm為跨導(dǎo)，與振蕩IC的設(shè)計(jì)相關(guān)。 在負(fù)載電容CL較小的情況下，增加gm的值可以提高負(fù)性阻抗，從而加快起振。 3. 負(fù)載電容(CL)：負(fù)載電容的大小不僅影響振蕩器的負(fù)性阻抗，還會(huì)對(duì)近端和遠(yuǎn)端相噪帶來不同的影響：
小的CL：較小的負(fù)載電容使負(fù)性阻抗變大，起振速度更快，牽引量更大，但同時(shí)也更容易受到雜散電容的影響。這對(duì)近端相噪有利，但可能增加遠(yuǎn)端相噪。
大的CL：較大的負(fù)載電容會(huì)減小負(fù)性阻抗，導(dǎo)致起振速度較慢，但雜散電容的影響較小，有助于提升遠(yuǎn)端相噪的穩(wěn)定性，可能對(duì)近端相噪不利。
發(fā)表于 2025-01-10 13:09 |
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KOAN晶振有E5052B信號(hào)分析儀器(相位噪聲和抖動(dòng))、S&A280B(振蕩器)、S&A250B(諧振器)測試儀器，以及高低溫箱，抗沖擊試驗(yàn)設(shè)備。能夠檢測溫度、負(fù)載和功率電壓變化條件下的頻率穩(wěn)定性。
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