晶振都是時鐘信號的“心臟”，為整個電路系統(tǒng)提供精準(zhǔn)穩(wěn)定的節(jié)拍。微控制器、計算機(jī)主板、通信設(shè)備、各類智能硬件中都能看到晶振的身影。
1） 設(shè)備無法啟動：如果晶振無法正常起振，MCU或CPU就無法獲得時鐘信號，從而導(dǎo)致系統(tǒng)無法運行。常見故障有：黑屏、無響應(yīng)、電流異常小等。
2） 程序異常：如果晶振輸出幅度變小，頻率不穩(wěn)，可能導(dǎo)致主控芯片死機(jī)或自動重啟。3） 通訊功能失常：如果晶振輸出的時鐘頻率不準(zhǔn)確，通信接口將無法正確同步，數(shù)據(jù)通信可能出現(xiàn)亂碼、丟包、失步等問題。4） 系統(tǒng)時間異常、數(shù)據(jù)錯誤：定時器、電表、時鐘模塊等對時間精度敏感的應(yīng)用，晶振故障會直接引發(fā)時基漂移，表現(xiàn)在計時不準(zhǔn)或邏輯錯誤。
雖然晶振的結(jié)構(gòu)簡單、工作可靠 ，但在長期工作或特殊環(huán)境下
，也存在損壞的風(fēng)險。
工藝偏差也可能讓晶振失效 ，例如內(nèi)線未焊牢
、高應(yīng)力殘留等。
其它導(dǎo)致晶振損壞的常見原因有：
1） 機(jī)械應(yīng)力與外力沖擊：較薄的晶片能夠?qū)崿F(xiàn)高頻震動，但是對外界應(yīng)力更為敏感，易受損。如果遇到強(qiáng)烈震動，可能導(dǎo)致晶體破裂或內(nèi)部焊點虛接、斷裂。更多：《石英晶片與頻率的關(guān)系》
2） 靜電放電：靜電放電很容易使帶IC的晶體振蕩器受損不能正常工作。過大的靜電釋放可能擊穿晶振內(nèi)部結(jié)構(gòu)。更多：《晶振靜電放電測試ESD》
3） 工作溫度過高：如果晶振的工作溫度范圍-20℃ 至 +70℃，雖然在 -40℃ 至 +85℃也可能會正常運行。但是在最低和最高溫度下工作的穩(wěn)定性會變差，導(dǎo)致頻率漂移。更多：《溫度對晶振的影響》
4） 高濕或腐蝕性環(huán)境：晶振本體密封雖嚴(yán)，但長期暴露在高濕或者有害氣體環(huán)境中，極易氧化、腐蝕引腳，造成接觸不良甚至內(nèi)部進(jìn)水失效。更多：《濕度對晶振性能的影響》5） 激勵功率過大：部分電路為追求啟動速度快，從而加大激勵電流。激勵功率過高會導(dǎo)致頻率異常、穩(wěn)定度下降、熱應(yīng)力增加，加速晶振老化。更多：《石英晶振的激勵功率等級》
1） 選用KOAN高品質(zhì)晶振；
2） 合理設(shè)計PCB，避免機(jī)械應(yīng)力與靜電隱患；
3） 貼片、手工焊接時采用ESD防護(hù)措施；
4） 使晶振工作在合理的溫度、激勵電流條件內(nèi)；
5） 對于極端環(huán)境，選擇工業(yè)級，寬溫晶振等。
發(fā)布時間：2025-06-21 
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