發(fā)布時間:2024-03-09
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可靠性測試對高品質晶振至關重要,用于評估晶振在不同工作環(huán)境和極端條件下的性能,包括溫度變化、濕度、振動等。確保晶振在實際使用中的長期穩(wěn)定性和可靠性,以及在各種復雜環(huán)境下依然能夠提供準確、穩(wěn)定的時鐘信號.今天凱擎小妹給大家講一下“可靠性”測試中的”冷熱沖擊”試驗:
評估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實際使用中可能會遇到的溫度變化情況,確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能。可參考標準:MIL-STD- 883E- 1011.9B。
低溫:-55±5°C
高溫:125±5°C
循環(huán)次數(shù):100次
高低溫度保持時間:5 min
高低溫切換時間:5sec
實驗結束后24土 2 Hrs進行電性能測試。
晶體諧振器頻率降低2.5ppm左右(5max),諧振阻抗增大3Ω左右(5max) or ±10%
晶體振蕩器頻率降低3ppm左右(5max)