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影響晶振短期穩(wěn)定度的因素

發(fā)表于 2025-01-10 13:22
樓主 | 電梯直達(dá)
環(huán)境因素

1. 溫度變化:KOAN石英晶體的物理尺寸和振蕩頻率會隨溫度變化而變化
,導(dǎo)致頻率漂移
。溫度變化會影響晶體的熱膨脹系數(shù)
,從而影響振蕩頻率
2. 機械振動和沖擊:機械振動和沖擊會引起晶體的機械應(yīng)力變化,導(dǎo)致頻率波動
。這在移動設(shè)備或工業(yè)環(huán)境中尤為明顯
。振動可能導(dǎo)致晶體的物理形狀發(fā)生變化,從而影響其振蕩頻率

電氣因素

1. 電源噪聲:電源噪聲是由電源的不穩(wěn)定性或其他設(shè)備的干擾產(chǎn)生的

。通過電源線路傳導(dǎo)到晶振電路中,影響晶振穩(wěn)定的頻率輸出

2. 負(fù)載變化:負(fù)載電容的變化會導(dǎo)致振蕩頻率的偏移
。負(fù)載變化可能由于電路中其他元件的變化或外部連接的變化引起。

技術(shù)參數(shù)的影響
1. 晶片切割: 常用的AT切割晶體在常用溫度范圍內(nèi)具有較好的溫度穩(wěn)定性
。不同的切割角度會導(dǎo)致不同的頻率溫度系數(shù)
,從而影響短期穩(wěn)定度。
2. 等效串聯(lián)電阻: ESR表示晶體在諧振頻率下的電阻值
。較高的ESR可能導(dǎo)致KOAN振蕩器啟動困難
,并增加相位噪聲,從而影響短期穩(wěn)定度
3. 負(fù)載電容: 負(fù)載電容是指晶振在電路中工作的電容值
。負(fù)載電容的變化會影響振蕩頻率的穩(wěn)定性。設(shè)計時需要確保負(fù)載電容與KOAN晶振的標(biāo)稱值匹配
,以減少頻率偏移
4. 驅(qū)動電平: 驅(qū)動電平是指施加到晶振上的電壓或電流。過高或過低的驅(qū)動電平都會影響晶振的穩(wěn)定性
。適當(dāng)?shù)尿?qū)動電平可以確保晶振在最佳狀態(tài)下工作
,減少頻率波動。
5. 相位噪聲: 相位噪聲是指振蕩信號在頻域中的噪聲特性
。低相位噪聲意味著更好的短期穩(wěn)定度
。相位噪聲受電路設(shè)計
、電子元件選擇和電源質(zhì)量的影響。

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